分析了用光电编码器测量直线位移的原理， 介绍了用数字电路和单片机两种实现直线位移的测量方法。 两种方法都能够解决光电编码器测量直线位移时的符号判别及加减运算问题， 可以在不同的应用场合使用。   光电编码器是一种高精度的角位移传感器。它在角度测量 、位移测量和速度测量中有着广泛的应用。因其具有直接输出数字量 、响应快、精度高、抗干扰能力强、分辨率高 、输出稳定等特点， 其应用范围不仅仅局限于角位移， 角速度测量等场合， 在直线位移， 尤其是大位移测量领域也越来越广泛。按其输出信号特征分类，光电编码器有增量式 、绝对式和正弦波式等 。本文中仅就增量式光电编码器进行讨论。

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收缩率测量实际就是一个： 假设产品收缩率-----开模具------出来产品------三坐标验证产品收缩率的过程

电子行业标准 SJ/T 11619-2016 软件工程NESMA功能规模测量方法

本文介绍了利用工作于Bragg衍射的Ge晶体声光调制器作为外差系统中的频移器来测量外差系统的噪声等效功率(NEP)的方法。该方法具有测试系统简单、信号光功率、偏频可调的优点。实验测试与理论分析吻合。

利用点特征求解单目相对位姿是现在普遍采用的方法,但在纹理不明显、角点少的场景下,仅依靠点特征难以得到理想的结果。鉴于此,结合惯性测量单元的测量数据和平面场景存在的单应性约束,提出了基于点线特征结合的单目相对位姿估计算法。先利用惯性测量单元提供的旋转角信息将2帧连续图像校正为正下视图像;再对图像中的点线特征进行检测和匹配;最后根据点线特征的单应性约束求解正下视图像之间的相对位姿,进而转化获得原始图像之间的相对位姿。仿真实验和实物实验结果证明,所提算法能够有效地求解单目相对位姿。

5种测量DSP程序运行时间的方法的详细说明及例程。文档详细介绍。5种测量DSP程序运行时间的方法的详细说明及例程。

mos管测量方法图解 场效应管英文缩写为FET.可分为结型场效应管（JFET）和绝缘栅型场效应管（MOSFET），我们平常简称为MOS管。而MOS管又可分为增强型和耗尽型而我们平常主板中常见使用的也就是增强型的MOS管。 下图为MOS管的标识 我们主板中常用的MOS管G D S三个引脚是固定的。不管是N沟道还是P沟道都一样。把芯片放正。从左到右分别为G极D极S极！如下图： 用二极管档对MOS管的测量。首先要短接三只引脚对管子进行放电。 1然后用红表笔接S极。黑表笔接D极。如果测得有500多的数值。说明此管为N沟道。。 2黑笔不动，用红笔去接触G极测得数值为1. 3红笔移回到S极，此时管子应该为导通。 4然后红笔测D极，而黑笔测S极。应该测得数值为1.（这一步时要注意。因为之前测量时给了G极2.5V万用表的电压，所以DS之间还是导通的，不过大概10几秒后才恢复正常。建议进行这一步时再次短接三脚给管子放电先） 5然后红笔不动，黑笔去测G极，数值应该为1 到此我们可以判定此N沟道场管为正常

电流检测被用来执行两个基本的电路功能。首先，是测量“多大”电流在电路中流动，这个信息可以用于DC/DC电源中的电源管理，来判定基本的外围负载，来实现节能。第二个功能是当电流“过大”或出现故障时，做出判断。如果电流超过了安全限值，满足软件或硬件互锁条件，就会发出一个信号，把设备关掉，比如电机堵转或电池中发生短路的情况。文章对六种电流测量方法的优劣进行了分析。

本文主要讲了关于6种电流测量方法的优缺点的分析对比，希望对你的学习有所帮助。