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【基于Matlab】有限元方法的MATLAB编程
我们将建立一个类似iFEM的包或具有某些扩展的简化版本,称为mFEM工具箱。 fem:它包括各种源代码。 示例:所有与有限元和变分对应的示例都放在示例文件夹中。 工具:您可以找到涉及可视化、边界设置、网格生成和数值积分等功能。 pdedata:它提供了与示例文件夹中的示例相关联的方程的信息。 meshdata:它讲述了各种示例中使用的网格数据。 matlabupdate:更新版本的matlab中的一些函数是用相同的输入和输出重构的。例如,包含.m--->分枝杆菌.m。 多边形网格的显示和标记 我们提出了一些显示多边形网格的基本函数,包括节点、元素和(边界)边的标记。 辅助网格数据和setboundary.m 为了便于计算,我们引入了一些辅助网格数据。这个想法源于iFEM中对三角测量的处理,该处理被推广到经过某些修改的多边形网格。 FEM1D.m和main_FEM1D.m介绍了一维问题的有限元程序设计。详细说明了刚度矩阵和载荷矢量的组合。 给出了求解二维泊松方程的源代码,见Poisson.m、PoissonP2.m和PoissonP3.m。 对于线性弹性问题,我们给出了一个统一的规划框架
2024-01-13 20:27:27
219KB
matlab
编程语言
1
论文研究 - 软件可靠性对数非均匀泊松过程的贝叶斯预测分析
本文讨论了贝叶斯方法,用于在测试过程中估计和预测软件系统的可靠性。 针对软件故障,提出了由Musa-Okumoto(1984)软件可靠性模型引起的非均质泊松过程(NHPP)。 Musa-Okumoto NHPP可靠性模型由执行时间部分和日历时间部分两个部分组成,是软件可靠性分析中的一种流行模型。 软件可靠性模型的预测分析对于修改,调试和确定何时终止软件开发测试过程非常重要。 但是,文献中缺少对Musa-Okumoto(1984)NHPP模型的贝叶斯和古典预测分析。 本文讨论了与开发测试程序密切相关的单样本预测中的四个软件可靠性问题。 采用基于非信息先验的贝叶斯方法来为这些问题制定明确的解决方案。 给出了基于真实和模拟数据的示例,以说明已开发的理论预测结果。
2024-01-13 20:14:15
510KB
非信息先验
非均匀泊松过程
贝叶斯方法
强度函数
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《地理信息系统——原理、方法和应用》
《地理信息系统——原理、方法和应用》-邬伦等
2024-01-13 19:24:44
3.32MB
1
有关音量电位器接线方法
音量电位器接线方法 图中电路包括一个阻坑变换极,用来使具有很低阻坑的音调调节网络与前级输出相匹配。在输入晶体管射极处接入的网络中有两个电位器,用于分别调节高低音,而其余的电位器则用于调节音量、第二级的电压放大倍数约为20,输入电阻大于100K欧,输出电阻约为5K欧。 六脚音量电位器接线图 图中是普通6脚的双联电位器,如果是8脚的那种,一般左边2个是用来做等响度,可以不接,6脚电位器接法参考下图。 电位器阻值曲线类型一般有线性(B型)和指数(A型)两种类型。如果使用图1接法控制音量,应该用指数型电位器,这样电位器调节相同角度,人耳听到的音量变化是近乎相同的。而在某些场合,比如音调电路,可能需要线性电位器。 线性电位器一般阻值标注为BXXX、XXXB等,指数电位器一般阻值标注为AXXX、XXXA等,XXX指电位器阻值。例如B50k,就是线性电位器,阻值50k ohm。
2024-01-13 18:50:32
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接线方法
1
简析电位器型号命名方法
电位器型号命名方法根据我国行业标准《电子设备用电位器型号命名方法》(ST/T10503-94)的规定,电位器产品型号一般由下列四部分组成: 电位器电阻体材料代号用一个字母符号表示,见表1所示. 表1电位器电阻体材料代号 电位器的类别代号用一个字母表示,见表2。 表2电位器类别代号 电位器第四部分序号的意义同电阻器。 除了这四部分的代号外,有时在电位器型号中还加有其他代号。例如,规定失效率等级代号用一个字母 "K"表示,它一般加在类别代号与序号之间。 型号示例
2024-01-13 18:45:35
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命名方法
1
碳膜电位器故障检测方法_碳膜电位器怎么修复
碳膜电位器的故障特征 一、碳膜电位器因过电流而严重烧坏故障:这时碳膜电位器烧成开路。调节音量时扬声器中会出现“咯吱”“咯吱”的响声,停止转动碳膜电位器时噪声便随之消失,这说明音量电位器出现转动噪声大的故障。 二、碳膜电位器内部引脚断路故障:这时音量电位器所在电路不能正常工作,对于碳膜电位器而言,可能出现无声故障,或者出现音量关不死的情况。 三、碳膜电位器转动噪声大:主要出现在音量电位器中,因为音量电位器经常转动。 一般音量电位器或音调电位器使用一段时回见后或多或少也会出现转动噪声大的故障,这要要是由于动片触点月碳膜之间摩擦,造成碳膜损坏,使动片与碳膜之间接触不良。 碳膜电位器故障检测方法 一、碳膜电位器的阻值测量方法:碳膜电位器的阻值测量分为在路测量和脱开测量。由于一般电位器的引脚用引线与电路板上的电路相连,焊下引线比较方便,故障用脱开测量的方法,这样测量的结果够准确说明问题。 1、测量两固定引脚之间的阻值。其阻值应等于该电位器外壳上的标称阻值,远大于或远小于标称阻值都说明碳膜电位器有问题。 2、检测阻值的变化情况。用万用表欧姆档相应量程,一支表棒搭动片,另一支表棒搭定
2024-01-13 18:40:07
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碳膜电位器
检测方法
1
ARP攻击原理及解决方法
兖州矿业(集团)公司济宁三号煤矿开展了对ARP攻击原理及解决方法的研究,保证了通信的顺利进行。(1)按照以下方法查看是否受到ARP攻击:①查看ARP缓存表。在命令提示符下,输入"arp-a"查看ARP缓存表中内容。发现自己电脑网关对应MAC地址与其他正常上网电脑中存储网关MAC地址不一样就是受到ARP攻击,假网关MAC地址对应
2024-01-13 16:03:05
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行业研究
1
电容充放电时间计算方法
L、C元件称为“惯性元件”,即电感中的电流、电容器两端的电压,都有一定的“电惯性”,不能突然变化。充放电时间,不光与L、C的容量有关,还与充/放电电路中的电阻R有关。“1UF电容它的充放电时间是多长?”,不讲电阻,就不能回答。RC电路的时间常数:τ=RC充电时,uc=U×[1-e(-t/τ)] U是电源电压放电时,uc=Uo×e(-t/τ) Uo是放电前电容上电压RL电路的时间常数:τ=L/RLC电路接直流,i=Io[1-e(-t/τ)] Io是最终稳定电流LC电路的短路,i=Io×e(-t/τ)] Io是短路前L中电流 2设V0 为电容上的初始电压值;V1 为电容最终可充到或放到的电压值;Vt 为t时刻电容上的电压值。则:Vt=V0 +(V1-V0)× [1-e(-t/RC)]或t = RC × Ln[(V1 - V0)/(V1 - Vt)]例如,电压为E的电池通过R向初值为0的电容C充电,V0=0,V1=E,故充到t时刻电容上的电压为:Vt=E × [1-e(-t/RC)]再如,初始电压为E的电容C通过R放电 , V0=E,V1=0,故放到t时刻电容上的电压为:Vt=E ×
2024-01-13 15:41:28
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时间计算方法
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DINI03原始数据生成水准测量记录簿的实现方法
天宝DINI03电子水准仪以精度高,方便快捷等优点被广泛用于工程测量,但随机软件传输的数据格式不适合水准规范要求。文中软件通过excel函数和VBA编程,对原始数据进行处理,并自动生成满足规范要求的水准测量记录手簿,其操作简单,减轻了水准测量的内业工作量,避免了人工出错,保证了内业资料的无差错。
2024-01-13 13:33:22
801KB
行业研究
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论文研究 - 天然裂缝性储层EOR情景筛选的模拟方法
毫无疑问,碳酸盐岩中有大量的烃源,特别是那些天然裂缝的烃源,由于其复杂和非常规的行为,仍然需要研究其特征。 因此,采用任何能提高天然裂缝性油藏(NFR)采收率(EOR)的方法似乎都是必要且有用的。 但是,选择最合适的方案总是有挑战性的。 筛选标准将确定实施EOR流程的可能性。 同时,利用贸易营销模拟器可以解决此问题。 此外,仿真可以评估其他参数,例如含水率和气油比。 在这项研究中,为了选择最佳的EOR方案,考虑了含水层支撑的伊朗NFR,其中两个部分通过页岩层彼此分开。 使用PVTi软件创建流体模型。 在ECLIPSE Compositional(E300)中模拟了自然采油,注水,可混溶二氧化碳注入,水交替气(WAG)注入,同时水交替气(SWAG)注入,混合注入和气体再循环等各种生产方案并将其回收率记录为目标参数。 所开发的方案以提供最佳结果的方式进行设计,即更高的采收率,更少的含水率以及更少的气油比。 结果,SWAG显示了更好的条件,并建议在将来对储层管理计划进行进一步研究。 此外,通过在SWAG之外创建自然的WAG,含水层在SWAG方案中的作用也很积极。 此外,与其他方案相比,在SW
2024-01-13 12:32:55
5.09MB
天然裂缝性储层
强化采油
成分模拟
储层流体模型
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