第1 章认识半导体和测试设备 更多.. 1947 年，第一只晶体管的诞生标志着半导体工业的开始，从那时起，半导体生产和制造技 术变得越来越重要... 第1 节 晶圆、晶片和封装 第 3 节 半导体技术 第 5 节 测试系统的种类 第 7 节 探针卡（ProbeCard） 第 2 节 自动测试设备 第 4 节 数字和模拟电路 第 6 节 测试负载板（LoadBoard）... 第 2 章半导体测试基础 更多.. 半导体测试程序的目的是控制测试系统硬件以一定的方式保证被测器件达到或超越它的那 些被具体定义在器件规格书里的设计指标... 第1 节 基础术语 第 3 节 测试系统 第 5 节 管脚电路 第 2 节 正确的测试方法 第4 节 PMU 第6 节 测试开发基本规则 第 3 章基于PMU 的开短路测试 更多.. Open-Short Test 也称为Continuity Test 或Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信号引 脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电 源或地发生短路... 第1 节 测试目的 第 2 节 测试方法

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dlt算法matlab代码摄影测量 该存储库保存了我有关摄影测量基本任务的实验 基本单应性数学 该代码包含对线和点的单应性表示形式的基本转换 全景图 在本实验中，我将一个对象的3张图片拼接为一张全景图片。该实验包括以下步骤 围绕共同的投影中心转动相机以拍摄3张输入照片，从而使3张图像没有视差 通过选择3个图像中的特征点（它们都在同一平面上）来执行对应分析。 这些特征点将用于估计从一个图像到另一个图像的单应性变换。 使用SVD估计单应性。 最后，将图像一校正到图像2的平面，然后将校正后的图像2-3再校正一次到图像3的平面。 相机校准 此实验是关于使用直接线性变换（DLT）进行的相机校准的，该校准使用3D-2D控制点之间的对应关系估算内部和外部相机参数。 实验包括以下几个阶段。 对应分析：使用Matlab工具手动选择图像上的2D控制点。 根据我们在校准对象上绘制的图案，以代码生成相应的3D控制点。 DLT算法至少需要6个点的对应关系。 然后使用SVD分解从对应点估计投影变换。 在最后阶段，使用RQ分解对估计的投影进行分解。 RQ分解的结果包括两个矩阵：一个代表内在参数的3x3矩阵和一个代表

基于Micropython编码器的菜单 这是一个用micropython编写的简单菜单系统。 它使用一个开关，一个旋转编码器和一个OLED显示器。 它是在Raspberry Pi Pico上开发的，但也可以在ESP32和ESP8266上运行。 原型使用了基于128 * 64像素的SSD1306的OLED。 它可以适用于使用micropython的帧缓冲区的其他显示器，甚至可以适应像液晶显示器这样的非常基本的单行显示器。 我使用的旋转编码器的轴上有一个开关，用作单击按钮。 用于ESP32的Rotaryirq库在Raspi Pico上可以完美运行，并且显示屏使用了SSD1306I2c.py库 当启动Pico时，将显示根菜单，并在单击开关时操作菜单项。 可以显示任意数量的子项目。 可能的菜单操作包括运行Python函数，通过旋转编码器输入整数并输入字符串。 由于某些功能可能很慢或可能会阻塞，

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