通过JTAG接口对飞思卡尔 freescale MPC56XX / ST SPC56XX进行烧写DFLASH 和PFLASH

行业-电子政务-基于自动菊花链的单环JTAG背板测试总线电路.zip

比亚迪芯片烧录软件及keil插件

JTAG边界扫描仪 JTAG边界扫描板调试/测试软件 JTAG边界扫描仪是一种JTAG软件工具，用于调试或测试具有JTAG接口的任何电子板。 主要特点 Windows版本GUI。 在C中实现。 BSDL文件支持。 目标IO引脚的采样和控制模式（SAMPLE＆EXTEST）。 通过JTAG仿真的I2C总线。 通过JTAG仿真的SPI总线。 通过JTAG仿真的MDIO总线。 通过JTAG仿真的并行端口总线。 JTAG总线扫描和设备自动检测。 BSDL文件自动加载。 脚本支持。 用于远程控制的套接字接口。 支持的探针 基于FTDI FT2232H的JTAG探头支持（Olimex ARM-USB_OCD-H，Lattice HW-USBN-2B，Xilinx ...）。 JLINK JTAG探针支持。 注意：为了支持JLink探针，需要将JLinkARM.dll复制到JTA

arm coresight文档，用于学习arm的bug功能 BKK16-103-CoreSight trace decoding with Perf and openCSD.pdf coresight_v3_0_architecture_specification_IHI0029E.pdf DDI0480E_coresight_soc_r3p0_trm.pdf Understanding_the_CoreSight_DAP.pdf

mips enhanced jtag specification.详细的讲述MIPS架构jtag接口的原理, 里面有详细的时序图可以参考.

行业资料-电子功用-含外部看门狗机制时的JTAG口安全辅助电路.pdf.zip

ARM JTAG调试原理--OPEN-JTAG开发小组.pdf

边界扫描的介绍，边界扫描与JTAG的关系“边界扫描（Boundary Scan）测试发展于上个世纪90年代，随着大规模集成电路的出现，印制电路板制造工艺向小，微，薄发展，传统的ICT 测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚多，元器件体积小，板的密度特别大，根本没有办法进行下探针测试。一种新的测试技术产生了，联合测试行为组织（Joint Test Action Group）简称JTAG 定义这种新的测试方法即边界扫描测试。”

主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。