衬底温度是影响ZnO薄膜特性的重要因素,可以在很大程度上改变薄膜的结晶结构,温度高低直接影响衬底表面吸附原子的表面迁移率,再蒸发和结晶情况.在室温下测量了不同温度生长的ZnO薄膜的X射线衍射(XRD)曲线,探讨了最佳结晶质量所需的衬底温度.另外,从迁移率随温度的变化曲线上也得到同样的结果.
2022-12-12 21:55:41 1.08MB ZnO薄膜 晶体结构 迁移率 ZnO
1
射频磁控溅射制备(In, Co)共掺ZnO薄膜的电学和磁学性质.docx
2021-09-15 09:58:16 1.07MB
环形 ZnO 薄膜谐振器的横模抑制与测试分析
2021-03-04 15:07:33 588KB 研究论文
1