Tessent® MemoryBIST User's Manual.pdf
2022-03-01 10:23:53
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以固定形式扫描存储器阵列
其中包括全写0或者全写1情况，最后一步为读取所有存储单元。测试次数与存储单元容量N成正比，关系为测试次数T=4N。这种算法可以测试SAF故障，还可为施加其他测试序列做好准备。
2021-12-10 12:42:26
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