内容概要：本文记录了一位工程师调试Alinx公司软件无线电射频Zynq UltraScale+RFSoC FPGA开发板的经历。文章详细描述了从尝试原厂提供的demo工程开始，到解决DAC输出频率与设置不匹配问题的全过程。调试过程中，作者通过ILA抓取信号、频谱仪检测DAC输出频率、信号源输入验证ADC采集信号频谱、检查RF Data Converter配置、分析Vitis代码以及最终确认AXI总线时钟频率等一系列步骤，逐步排查并解决了问题。最终发现，问题根源在于Vitis代码中对ADC抽取和DAC插入值的配置未考虑到Sample per AXI4-Stream Cycle的因素。通过对代码进行修正，成功实现了预期的频率输出和信号采集效果。; 适合人群：具有一定硬件调试经验的FPGA开发工程师或射频工程师，尤其是对RFSoC芯片有一定了解的技术人员。; 使用场景及目标：①帮助读者理解RFSoC芯片的调试流程和常见问题；②提供详细的故障排查思路和方法，特别是针对DAC和ADC频率设置不匹配的问题；③指导读者如何正确配置Vitis代码以确保RF Data Converter的正常工作。; 阅读建议：本文提供了丰富的实战经验和具体的调试步骤，建议读者在遇到类似问题时参考本文的排查思路，并结合自己的项目环境进行实践。同时，对于文中提到的技术细节，如ILA信号抓取、频谱仪检测等，读者可以深入研究相关工具的使用方法，以便更好地应用于实际工作中。

STM32 TIM通用定时器触发ADC DMA TIM基本定时器触发DACSTM32 TIM通用定时器触发ADC DMA TIM基本定时器触发DACSTM32

我们通常讲的“线性度”都是指“积分非线性”，积分非线性一般以百分比给出，或者以位数给出。举个例子：AD7705（16位）的datasheet上说有0.003%的非线性。1LSB为1/65535=0.0015%，所以也可说AD7705有2LSB的非线性。“微分非线性”不常用， AD7705的datasheet上说：“16位无失码”，那就是说明它的微分非线性小于1LSB。

1）基于STM32的ADC仿真设计(包含源程序及Proteus仿真文件) 2）基于51单片机ADC的热敏电阻测温装置制作包含仿真及源程序 3）基于单片机的DAC0832三角波的产生和输出设计 包含程序与Proteus仿真文件 4）基于51单片机+ADC0809的数字电压表仿真设计 包含仿真及程序 5）基于51单片机的ADC0832浇花系统Proteus仿真设计 包含程序及仿真 6）基于51单片机+ADC0808的八路数字电压表仿真设计资料 包含程序、PCB原理图、仿真文件 7）基于51单片机ADC0834简易数字电压表仿真设计资料 包含源程序及仿真文件 8）基于单片机ADC0832调节频率输出仿真设计资料 9） 基于单片机ADC0832设计的两路电压表仿真设计资料 10）基于STM32单片机ADC实验+DAC实验例程7个合集包含源程序及文档说明 11）ADC-DAC-PWM相关资料&实验例程&基本框架&参考资料等 12）基于STC89C52单片机控制MCP4725_12位DA转换器例程V0引脚接GND

stm32 PID控制液压比例阀（通过串口助手发送数据），通过ADC读取当前位置，通过DAC输出电压，控制比例阀左右移动

随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中，一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号，另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此，保证ADC/DAC在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题ADC/DAC芯片的性能测试是由芯片生产厂家完成的，需要借助昂贵的半导体测试仪器，但是对于板级和系统级的设计人员来说，更重要的是如何验证芯片在板级或系统级应用上的真正性能指标。

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学习STM32过程中最烦的就是不知道哪个管教对应哪个管教的ADC，哪个管脚对应哪个管脚的DAC，SPI，哪些管脚是USART串口等等，此文档完美总结统计了这些

iCE40HX8K-EVB 带有 SRAM 和总线的 iCE40HX8K 开发板，用于快速 ADC、DAC、IO

折叠共源共栅运放结构的运算放大器可以使设计者优化二阶性能指标,这一点在传统的两级运算放大器中是不可能的。特别是共源共栅技术对提高增益、增加PSRR值和在输出端允许自补偿是有很用的。这种灵活性允许在CMOS工艺中发展高性能无缓冲运算放大器。介绍了一种折叠共源共栅的运算放大器,采用TSMC 0.18混合信号双阱CMOS工艺库,用HSpice W 2005.03进行设计仿真,最后与设计指标进行比较。