完整英文电子版 IEC 60749-5：2017 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 5：Steady-state temperature humidity bias life test （半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 5 部分：稳态温度湿度偏置寿命测试）。IEC 60749-5:2017 提供了稳态温度和湿度偏置寿命测试，目的是评估非密封封装固态器件在潮湿环境中的可靠性。 此第二版取消并取代了 2003 年出版的第一版。此版本构成技术修订。 此版本相对于上一版本包括以下重大技术更改： a) 修正方程中的错误； b) 包含指导说明； c) 阐明试验条件的适用性。