完整英文版 IEC 60749-13：2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13：Salt atmosphere(半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第13部分：盐雾）。IEC 60749-13:2018 描述了一种盐气氛测试，用于确定半导体器件的耐腐蚀性。 这是一个加速测试，模拟严重的海岸大气对所有暴露表面的影响。 它仅适用于指定用于海洋环境的那些设备。 盐雾试验被认为是破坏性的。 此版本相对于上一版本包括以下重大技术更改： a) 与 MIL-STD-883J 方法 1009.8，盐环境（腐蚀）保持一致，包括有关试验室的调节和维护以及试样安装的信息（包括说明图）。