本文通过Scout software对光学膜层膜厚、折射率等光学常数进行了测量。

此脚本使用传输光谱的 ascii 数据格式，您必须在命令窗口中写入文件名。 然后在图中，您将找到最大值和最小值点。 使用十字准线，从左到右，单击最大点； 后来的最低分。 结果是复数指数及其对不同波长的误差的列表，以及厚度加上薄膜的误差的列表。 脚本中最强的近似是无色散材料的想法。 压缩文件包含： * calcula_espesor_pelis_trans.m 这是脚本* my_data.out 这是一个带有最大值和最小值的练习文件 *localmaxmin.m 由 Duane Hanselman 感谢制作《局部最大值和/或最小值》的 Duane Hanselman，我用它来显示最小值和最大值点。

采用椭圆偏振光谱法，在1.5～6.5eV光谱范围研究了纤锌矿结构GaN外延薄膜。通过物理模型建立和光谱拟合得到了GaN外延薄膜的厚度和光学常数，所得厚度值与扫描电子显微镜测量的结果相差仅为0.4%。表明所采用的模型和Cauchy吸收色散表式适用于GaN薄膜，进一步采用四相逐点拟合算法得到更全面更准确的GaN薄膜光学常数。

提出了一种基于填充液态碳氢燃料类半透明液体材料光学腔的透射光谱反演其介质光学常数的新方法，对通过实验获取水的光学常数进行了方法验证。采用Bruke V70傅里叶红外光谱仪实验测量了填充乙醇光学腔在波长2~15 μm的透射光谱，基于新方法反演得到乙醇在部分波长区域的光学常数和热辐射物性参数。研究结果表明，新方法（IDTM模型）反演液体光学常数精度同MCDTM模型基本一致，且明显高于SODTM模型和SDTM模型。乙醇在波长2~15 μm范围透光性能较差，其中存在波长3.57 μm，6.88~7.88 μm、9.12~9.74 μm，11.37 μm等4个强吸收区域。乙醇的光学常数和热辐射物性参数光谱选择性很强，在不同波段其值差距较大。

用于拟合各种函数曲线，可实现多变量函数拟合。 利用通用全局优化算法，不需给出参数初始值，即可找出最优解，具有超强的寻优容错能力。

行业分类-设备装置-一种金属吸收膜层光学常数及厚度的测量方法

A spatial distribution of diffuse reflectance produced by obliquely incident light is not centered about the point of light entry. The value of shift in the center of diffuse reflectance is directly related to the absorption coefficient \mu_{a} and the effective attenuation coefficient \mu_{eff}. \m

利用太赫兹(THz)时域光谱技术对两种重要的半导体材料n型硅(n-Si)样品和p型硅(p-Si)样品进行了研究。通过测量自由空间的参考信号和透过样品的THz信号, 经过快速傅里叶变换等一系列数据处理, 获得了它们在0.5～2.0 THz频率范围内的光学参数。结果表明, 在该频率范围内两种样品的折射率和相对介电常数实部基本不随频率变化, 而p-Si样品的消光系数和相对介电常数虚部随频率增大而下降的幅度明显大于n-Si样品。此外, 通过计算获得了两种材料的复电导率和介电损耗, 发现n-Si样品和p-Si样品两者在THz波段都具有良好的介电特性, 适合作为半导体基片材料在THz波段工作。