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上传时间: 2022-08-29 08:48:30
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文件大小: 1.84MB
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文件类型: PPT
IDDQ测试(1)
为了检测CMOS电路中的某一个故障, 首先必须生成能激活该故障的IDDQ测试向量,该IDDQ 测试向量必须在该故障条件下能够制造一条或多条由VDD到VSS的低电阻通路,相当于电压测试中的故障激活和传播
但是同电压测试不一样,IDDQ 测试不需要把故障效应传播到原始输出端,因为IDDQ 测试并不在原始输出端,这是IDDQ实际应用时的方便之处
缺点
需要精确地测量电流
由于IDDQ的稳定需要一定时间,所以测试速度慢