在s = 8 TeV的质子-质子碰撞中测量微分和双微分Drell-Yan截面

给出了在电子和channels子通道中的差分和双差分Drell-Yan截面的测量结果。 它们基于在LHC上用CMS检测器记录的s = 8TeV的质子-质子碰撞数据，对应的综合光度为19.7 fb-1。 从双电子和双介子通道的组合获得的Z峰区域（60–120 GeV）中的测量包含端截面为1138±8（exp）±25（theo）±30（lumi）\，pb，其中 统计不确定性可以忽略不计。 在差分物质质量范围15–2000 GeV中测量微分截面dσ/ dm并校正至整个相空间。 双微分截面d2σ/ dmd | y | 在20至1500 GeV的质量范围内以及从0到2.4的绝对双链快速度下也测得δ值。 此外，还介绍了在s = 7和8 TeV时测得的归一化微分截面的比率。 使用各种parton分布函数（PDF），将这些测量结果与下一个领先和下一个领先（NNLO）订单的摄动QCD的预测进行比较。 结果与使用CT10 NNLO和NNPDF2.1 NNLO PDF的littlez 3.1计算得出的NNLO理论预测一致。 测得的双微分横截面和归一化微分横截面的比率足够精确以约束质子PDF。