频率特性测试仪设计方法
本系统以FPGA及DDS发生芯片AD9851为核心，通过AD637检测信号的有效值，并利用MSP430中自带的A/D芯片对有效值进行采集，通过将输入输出信号进行过零比较整形为方波后，进行相与，计数等操作得到相位差的占空比从而得到相频特性数据；使用双口RAM存储幅频和相频特性数据，最后通过LCD将所得的数据绘制成稳定的波形图
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