电弱精度的可能未来:ILC,FCC-ee和CEPC

上传者: 38703823 | 上传时间: 2024-07-04 20:46:25 | 文件大小: 840KB | 文件类型: PDF
高精度电弱物理的未来在于对Z玻色子,W玻色子,希格斯玻色子和顶夸克性质的e + e-对撞机测量。 我们估计了三种可能的未来对撞机的预期性能:ILC,FCC-ee(以前称为TLEP)和CEPC。 特别是,我们提出了CEPC可能达到的初步估计值,即中国提出的圆形电子正电子对撞机,斜参数S和T以及希格斯耦合器的七参数拟合。 这些结果使CEPC的物理潜力可以与ILC和FCC-ee的物理潜力进行比较。 我们还展示了当每个最重要的输入度量的不确定性分别改变时,对S和T的约束将如何演变。 这阐明了未来对撞机的基本物理目标。 为了提高当前的精度,最高优先级是改善m W和sin​​ 2θeff的不确定性。 同时,对顶部质量,Z质量,α的延伸和Z宽度的改进的测量将提供进一步的改进,这将确定最终的覆盖范围。 我们认为,每种可能的未来对撞机都具有探测TeV级电弱物理的强大前景。

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