基于FPGA的频率特性测试仪的设计 (2011年)

上传者: 38675815 | 上传时间: 2021-10-18 16:13:55 | 文件大小: 327KB | 文件类型: -
为了更好地利用频率特性测试仪,也称扫频仪(FSI),测量被测电路网络的幅频特性和相频特性,提出了一种基于 FPGA核心的新型频率特性测试仪设计方案。并在此基础上实现了测量500 Hz至125 kHz带宽的幅频特性和相频特性的功能,各项指标的仿真结果与实测结果高度吻合,与点频测量法相比较误差在5%以内,并在小型化,数字化,低功耗方面有所特色。

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