在13 TeV和100 TeV质子-质子对撞机上弱规格玻色子产物的双部分散射

上传者: 38613173 | 上传时间: 2024-02-28 12:06:18 | 文件大小: 1.83MB | 文件类型: PDF
我们研究在13和100 TeV质子-质子对撞机上涉及弱电玻色子的双部分散射(DPS)过程。 具体来说,我们专注于三个DPS通道:W玻色子加两个射流(W⊗jj),Z玻色子加两个射流(Z⊗jj)和等号W对产生(W±⊗W±)。 我们证明Z⊗jj过程并没有引起太多关注,它是测量有效横截面σeff的最佳渠道。 在100 TeV对撞机上,三个DPS通道(尤其是W±⊗W±产量)中σeff测量的精度显着提高。 我们主张对三个DPS通道的组合分析可以测试有效横截面σeff的普遍性。

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