基于二氧化ha薄膜的无杂质空位扩散诱导量子阱混合

上传者: 38548394 | 上传时间: 2021-10-07 15:05:09 | 文件大小: 256KB | 文件类型: -
这项工作首先证明了基于电子束蒸发二氧化f(HfO2)的无杂质空位扩散(IFVD)诱导的量子阱混合(QWI)。 红光二极管激光晶片具有两个6纳米厚的GaInP量子阱和三个8纳米厚的AlGaInP量子势垒的有源区。 在200℃下在二极管激光晶片的表面上蒸发出135nm厚的HfO 2膜。 QWI过程是通过在不同温度下快速热退火(RTA)20 s引起的。 发现活性区域发射波长的强度和半峰全宽(FWHM)分别随着退火温度的升高而增加和降低。 当样品在1000°C退火时,HfO2 IFVD诱导的QWI发现蓝移为18 nm。 此外,基于活性区域中的浓度分布来计算扩散长度和扩散系数,并且扩散系数值高于Zn杂质扩散诱导的QWI中的结果。

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