轴向不一致性-computer architecture计算机体系结构：量化研究方法第6版英文

K.2.3 印制增量 按附录 K.2.2. 计算亮、暗平均值之间的反射率阈值，用这一阈值产生出另一个区分亮、 暗的二进制图像。 此印制增量参数，也就是亮暗标记是否能恰当地充满它们的模块边缘的程度，是影响识 读性能的一个重要的过程质量指标。最能标明符号相对于单元名义尺寸的增加量和减少量的 独特的图形结构因符号不同而不同，应该在其符号规范中规定。它们一般是固定的结构或者 是孤立的单元。它们的尺寸 D通过计算二进制数字化图像象素数量来决定。可以独立地对一 个以上的尺寸，例如水平增量和垂直增量，进行规定和检测。对于每一个检测的尺寸规定一 个标称值 DNOM，一个允许的最大值 Dmax和最小值 Dmin。每一个测量值 D 应该归一化到它对应的 名义值和极限值： D'=(D- DNOM)/( Dmax- Dmin) 如果 D> DNOM D'=(D- DNOM)/( DNOM - Dmin) 其他情况 印制增量的等级确定如下： 4.0 (A) 如果 –0.50≤D'≤0.50 3.0 (B) 如果 –0.70≤D'≤0.70 2.0 (C) 如果 –0.85≤D'≤0.85 1.0 (D) 如果 –1.00≤D'≤1.00 0.0 (F) 如果 D'1.00 印制增量测量的目的在于检测组成符号的图形质量，是否偏离名义的尺寸太多，从而影 响比测试条件还差的实际制做条件生产出来的符号的可读性。 K.2.4 轴向不一致性 二维矩阵符号包含由模块组成的数据区，这些模块名义上位于正多边形网格中。参考译 码算法必须能够映象这些模块的中心位置来取得数据。轴向不一致性指的是对映象中心的距 离，即取样点在网格的每一个主轴方向上的间隔的度量和分级。 在每一个多边形的轴向，对相邻取样点的间隔分别整理，然后再计算出沿每一个轴向的 平均间隔 XAVG，轴向不一致性度量了轴与另一轴之间的取样点间隔的差别有多大。即： AN=abs(XAVG-YAVG)/((XAVG+YAVG)/2) 其中 abs()是绝对值函数，如果一个符号有多于两个主轴，那么 AN用由差别最大的两 个平均间隔计算得出。轴向不一致性等级的确定如下： 4.0 (A) 如果 AN≤0.06 3.0 (B) 如果 AN≤0.08