时序裕量测试-ctags中文手册

上传者: 26713059 | 上传时间: 2025-08-04 14:06:15 | 文件大小: 5.67MB | 文件类型: PDF
6.5 时序裕量测试 在 6.2节针对接口时序进行了讲解。在实际应用过程中,由于环境应力原因,DDR3时 序容易产生漂移,从而引发时序问题。最典型的就是数据线的建立保持时间偏移。 下面是常用的裕量测试方法: 6.5.1 窗口扫描 窗口扫描的目的跟示波器测量建立保持时间的目的是一样的。就是获取当前时序所在 的窗口位置,看是否时序向一边偏移了。但是窗口扫描的方法跟示波器测量不一样。 示波器测量是直接通过座标卡建立保持时间。而窗口扫描的方法则是通过修改寄存器, 调整 DQS/DQ、CK/AC的相位关系,得出误码时的相位,间接反应建立保持时间。 下面具体举例说明窗口测试的原理。比如,下图是 DDR3 初始化及训练后的 DQS/DQ 相 位。 图 6-42 DQ-DQS 初始时序 将 DQ 相位逐步前移,使 DDR3 接口出现误码,那么这个相移量就是初始化训练后的左 边窗口大小。 图 6-43 DQ-DQS 时序左边界 将 DQ 相位逐步后移,使 DDR3 接口出现误码,那么这个相移量就是初始化训练后的右 边窗口大小。

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