[半导体器件资料] Semiconductor Material and Device Characterization

上传者: wc0368_cn | 上传时间: 2022-09-12 14:03:35 | 文件大小: 50.92MB | 文件类型: ZIP
这是Purdue教授Peide (Peter) Ye的全套授课课件,以及4次作业和解答,另附两次special lecture on STM_AFM and XPS_UPS_Auger。内容非常翔实,包括各种业界通用的半导体表征技术。适合当工具查阅

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