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IC基本测试原理
IC基本测试原理
上传者:
sushe432
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上传时间: 2023-02-21 15:19:05
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文件大小: 155KB
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文件类型: DOC
集成电路
器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。
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