VLSI Test Principles and Architectures:Design for Testability
This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.
#xB7; Most up-to-date coverage of design for testability.
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评论信息
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u012581629 :VLSI的中文版的书太少了，偶尔有一个也会有很多错误。研究生只能一本一本肯英文了。这本书很经典，老师说的~2015-10-07 -
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kevinhujf :经典参考书籍，多谢分享2014-10-28
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wb2009_happy :好东西 学习学习了 有助于对VLSI的理解 国内很少找到英文资料了2014-06-26
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ziopoo :学习学习，一定可以大有收获，以后有机会去做后端去2014-05-09
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jy00923702 :好东西，这本书好贵的，这里居然有下载可以看 大赞楼主 关于可测性分析的一本好书啊2014-02-12
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