S200编程培训资料 程序架构介绍

S200编程培训资料中涉及的程序架构介绍，重点阐述了AdaptStar测试程序编写的基础知识，特别是针对数字测试的程序框架和相关API接口。在数字化测试领域，确保测试程序的精确性和效率是至关重要的，因此培训资料深入讲解了如何通过软件生成的向量驱动数字通道，并在测试项中比较这些向量，以实现对IC芯片的高精度检测。 培训资料首先介绍了测试程序的基础架构，如Test Program（*.prg）、Test Project（*.prj）、Timing Definition（*.tim）、Pattern Header（*.hed）、Pattern（*.pat）和External Link（*.dll）等，这些都是进行数字测试不可或缺的组成部分。它不仅包括了软件层面的配置和定义，还包括了硬件层面，如管脚/管脚组、继电器控制、分bin信息等。 此外，培训资料还详细介绍了数字板卡相关的API接口。这些接口对于编写测试程序至关重要，因为它们提供了控制硬件的手段。例如，通过定义管脚配置资源和其他相关信息，可以设置测试项和测试条件，以及分bin信息，这些操作能够精确地定义测试周期和波形的升降延时间，以及数字通道的高低电平信息。 项目文件（Project file）的概念也被涉及，这包括了prj文档如何连接其他配置文档，以及如何定义资源描述、管脚/管脚组、继电器控制、分bin和测试工位执行顺序等关键信息。这些项目文件中包含了START_UP_TABLE，其用于定义测试工位数以及被调用到的测试程序中的配置文件。而PIN_DEFINE_TABLE则定义了芯片测试管脚和对应使用到的测试机中的资源。此外，还介绍了如何定义控制继电器时使用的控制位、程序中会使用到的管脚组、继电器控制位组、软件bin和硬件bin信息，以及执行测试流程时工位间的测试顺序。 从编程的角度来看，通过prj文档连接配置文档的方式，使得测试程序的构建更加模块化和灵活。在实际应用中，这有助于工程师根据不同需求快速调整和优化测试程序，提高整体的测试效率和质量。 在具体编程层面，培训资料提供了一系列指令和命令的使用方法，比如如何通过仿真软件生成向量，以及如何在测试程序中使用这些向量。同时，对于测试项中用到的所有IO测试管脚都有明确的定义和说明，确保在编程过程中可以准确调用和控制相应的硬件资源。 通过上述架构和编程方法的介绍，培训资料为学习者提供了一个系统的知识框架和实际操作指南，旨在帮助他们能够更高效地编写和优化AdaptStar数字测试程序，最终实现对芯片等电子元件进行快速而准确的测试和故障诊断。该培训资料对于任何希望深入了解数字测试程序架构和编程方法的工程师和技术人员来说，都是一份宝贵的资源。