JESD22简介目录

AEC-Q100 是基于集成电路应力测试认证的失效机理的标准，它包含以下12个测试方法： ¶　　AEC-Q100-001 邦线切应力测试 ¶　　AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 ¶　　AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 ¶　　AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 ¶　　AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 ¶　　AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 ¶　　AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 ¶　　AEC-Q100-008 早期寿命失效率（ELFR） ¶　　AEC-Q100-009 电分配的评估 ¶　　AEC-Q100-010 锡球剪切测试 ¶　　AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试 ¶　　AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC-Q101 是汽车级半导体分立器件应力测试认证，它包含以下6个测试方法： ¶　　AEC-Q101-001 人体模式静电放电测试 ¶　　AEC-Q101-002 机械模式静电放电测试