上传者: m0_53712733
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上传时间: 2021-06-23 16:03:52
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文件大小: 8.89MB
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文件类型: DOCX
ETest提供了针对嵌入式系统的半实物硬件在环仿真测试环境,通过模拟待测系统的外部环境并产生信号输入到待测系统,同时获取并分析待测系统的输出信号,实现针对嵌入式系统的自动化功能测试。
ETest具有适用范围广、通用性强、自动化测试程度高、扩展性好、携带方便、配置灵活、操作简单以及使用成本低等特点,能满足军事工业、工业控制、仪器仪表、汽车电子等各领域嵌入式系统的测试与验证需求。