2.4 元器件的选用 因为元器件直接决定了电源的可靠性,所以元器件的选用非常重要。元器件的失效主要集中在以下四个方面: (1)制造质量问题 质量问题造成的失效与工作应力无关。质量不合格的可以通过严格的检验加以剔除,在工程应用时应选用定点生产厂 家的成熟产品,不允许使用没有经过认证的产品。 (2)元器件可靠性问题 元器件可靠性问题即基本失效率的问题,这是一种随机性质的失效,与质量问题的区别是元器件的失效率取决于工作 应力水平。在一定的应力水平下,元器件的失效率会大大下降。为剔除不符合使用要求的元器件,包括电参数不合格、密 封性能不合格、外观不合格、稳定性差、早期失效等,应进行筛选试验,这是一种非破坏性试验。通过筛选可使元器件失 效率降低 1~2 个数量级,当然筛选试验代价(时间与费用)很大,但综合维修、后勤保障、整架联试等还是合算的,研 制周期也不会延长。电源设备主要元器件的筛选试验一般要求: ①电阻在室温下按技术条件进行 100%测试,剔除不合格品。 ②普通电容器在室温下按技术条件进行 100%测试,剔除不合格品。 ③接插件按技术条件抽样检测各种参数。 ④半导体器件按以下程序进行筛选: 目检→初测→高温贮存→高低温冲击→电功率老化→高温测试→低温测试→常温测试 筛选结束后应计算剔除率 Q Q=(n / N)×100% 式中:N——受试样品总数; n——被剔除的样品数; 如果 Q 超过标准规定的上限值,则本批元器件全部不准上机,并按有关规定处理。 在符合标准规定时,则将筛选合格的元器件打漆点标注,然后入专用库房供装机使用。 (3)设计问题 首先是恰当地选用合适的元器件: ①尽量选用硅半导体器件,少用或不用锗半导体器件。 ②多采用集成电路,减少分立器件的数目。 ③开关管选用 MOSFET 能简化驱动电路,减少损耗。 ④输出整流管尽量采用具有软恢复特性的二极管。 ⑤应选择金属封装、陶瓷封装、玻璃封装的器件。禁止选用塑料封装的器件。
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