设计问题-历年电子科技大学微波技术基础考研复试题

2.4 元器件的选用 因为元器件直接决定了电源的可靠性，所以元器件的选用非常重要。元器件的失效主要集中在以下四个方面： （1）制造质量问题 质量问题造成的失效与工作应力无关。质量不合格的可以通过严格的检验加以剔除，在工程应用时应选用定点生产厂 家的成熟产品，不允许使用没有经过认证的产品。 （2）元器件可靠性问题 元器件可靠性问题即基本失效率的问题，这是一种随机性质的失效，与质量问题的区别是元器件的失效率取决于工作 应力水平。在一定的应力水平下，元器件的失效率会大大下降。为剔除不符合使用要求的元器件，包括电参数不合格、密 封性能不合格、外观不合格、稳定性差、早期失效等，应进行筛选试验，这是一种非破坏性试验。通过筛选可使元器件失 效率降低 1～2 个数量级，当然筛选试验代价（时间与费用）很大，但综合维修、后勤保障、整架联试等还是合算的，研 制周期也不会延长。电源设备主要元器件的筛选试验一般要求： ①电阻在室温下按技术条件进行 100％测试，剔除不合格品。 ②普通电容器在室温下按技术条件进行 100％测试，剔除不合格品。 ③接插件按技术条件抽样检测各种参数。 ④半导体器件按以下程序进行筛选： 目检→初测→高温贮存→高低温冲击→电功率老化→高温测试→低温测试→常温测试 筛选结束后应计算剔除率 Q Q=（n / N）×100% 式中：N——受试样品总数; n——被剔除的样品数; 如果 Q 超过标准规定的上限值，则本批元器件全部不准上机，并按有关规定处理。 在符合标准规定时，则将筛选合格的元器件打漆点标注，然后入专用库房供装机使用。 （3）设计问题 首先是恰当地选用合适的元器件： ①尽量选用硅半导体器件，少用或不用锗半导体器件。 ②多采用集成电路，减少分立器件的数目。 ③开关管选用 MOSFET 能简化驱动电路，减少损耗。 ④输出整流管尽量采用具有软恢复特性的二极管。 ⑤应选择金属封装、陶瓷封装、玻璃封装的器件。禁止选用塑料封装的器件。