克隆仓库： git clone https://github.com/sorieux/react-grid-layout-test.git 安装依赖项： npm install 运行： npm start React-grid-layout文档： :

随着SOC的发展，DFT技术越来越受到重视。该书是IC Design for testing(DFT)技术的经典书籍之一。适合DFT工程师和搞IC可测性设计的研究人员。

BUAA-Recommend-Graduate-Test 北航2013年计算机夏令营机试题与自己写的程序 2 problems written in C language

本文实例讲述了C++编写DLL动态链接库的步骤与实现方法。分享给大家供大家参考，具体如下： 在写C++程序时，时常需要将一个class写成DLL，供客户端程序调用。这样的DLL可以导出整个class,也可以导出这个class的某个方法。 一、导出整个class 方法很简单，只需要在类的头文件中class和类名之间加上_declspec(dllexport)，同时在另外一份提供给客户端调用程序使用的类的头文件中class和类名之间加上_declspec(dllimport)。为了能让客户端程序和DLL程序公用该类的一份头文件，通常在类的头文件中使用宏和预编译指令来处理。如下DLLTest.h：

This test plan defines general requirements for equipment configurations, laboratory techniques, test methodologies, and evaluation criteria that must be met in order to ensure the accurate, repeatable, and uniform testing of wireless devices to ensure that they meet CTIA Certification standards. This test plan also defines a portion of the requirements that a laboratory must satisfy to qualify for and maintain CTIA Authorized Testing Laboratory (CATL) status (contact the CTIA Certification Program staff for complete CATL requirements). This test plan does not provide specific test equipment configurations or detailed test instructions by which to execute certification testing. Such documentation and procedures must be presented by the CATL as part of the CTIA authorization process and subsequently maintained and employed by the CATL to remain authorized to perform Certification testing.

文件演示了从 Matlab 代码直接调用 FTD2XX_NET.dll 库。 FTDI 使 USB 兼容设备可以更容易地创建基于 USB 的电子仪器。 FTD2XX_NET.dll（可从 ftdichip.com 下载）是 FTDI D2XX USB 设备驱动程序编程库的 .Net 包装器。 该库消除了设备开发人员在开发通过 USB 端口连接到 PC 的自定义仪器时编写自定义 USB 驱动程序的需要。 Test_FTD2XX_NET_BitBang.m 演示了打开 dll，打开基于 FTDI FT245 的 USB 设备，并将设备设置为 BitBang 模式。 在 BitBang 模式下，FT245 设备用作 8 位并行 I/O 端口。 现代 PC 和笔记本电脑通常不再包含此类并行接口。 将包含 FTDI FT245 芯片的简单模块（例如 DLP-USB245M）挂在 PC USB 总

工厂检测内存条质量的软件Ram Stress Test，只要有一丁点问题，都能检查出来，推荐大家使用，各位一定 都碰到过，提示内存不能为 READ，或者WRITTEN的情况，很多时候都是软件问题，要解决他首先检查内存条的质量，然后再从软件去找问 题。这个软件是最专业的，比那个 MEMREST还好，只需要检查一边，好就是好，坏的就是坏的。这个软件确实很好，内存坏的话会显示红色，并 且报警。但是只能检测一代内存， 二代内存就需要微软的检测工具了。 Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的测试 程式，他其实是从其他的产品独 立出来的一项测试，该公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于R.S.T.在目前记忆 体生产业使用非常普遍，因为经 过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题，所以是非常好用的一个测试工具！！ 　　使用非常简易，只要设定为软碟开机就行了，他是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于 x86系列，只要BIOS认的到的容量 他都能测！！ 　发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上 述选项才能通过。 　　附件IMZ需要用winImage展开到软盘上，然后用此软盘启动系统。 　　附件NRG是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。 　　程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测 试你CPU的L2 cache。 ☆　可以测试SD及DDR内存。 ☆　闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 依次代表内存条的8颗颗粒。 从左到右横着数：0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗 粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表 第7颗粒、8-F代表第8颗粒 ☆　点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带 动它（可解决部分点不亮问题） 。必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。 ☆　发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时， 上述选项才能通过。 ☆　程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测 试CPU的 L2 cache。

standard_test_images，标准测试图像512*512

Device Spy是一个UPnP测试工具, WinXP，Win7以上都可以使用，解压直接运行。它允许UPnP设备检测、显示关于UPnP设备的各个方面的详细信息、动作调用、事件监视和错误处理。

2014a Test checkout of featur compiler failed，如果报错Test checkout of feature 'Compiler' failed ，是因为你的matlab2014a破解不完全。下载文件替换相应的文件即可（install.jar ，compiler.dll，mcc.exe，libmwservices.dll）license.lic改为与MATLAB\licenses文件夹下的那个lic文件同名，复制并替换之