SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂，在设计时必须考虑DFT和DFM。        本文以一SOC单芯片系统为例，在其设计、测试和可制造性等方面进行研究，并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑。                引言         以往的系统设计是将CPU，DSP，PLL，ADC，DAC或Memory等电路设计成IC后，再加以组合变成完整的系统，但现今的设计方式是将上述的电路直接设计在同一个IC上，或购买不同厂商的IP（intellectual property），直接加以整合，此方式称为单晶片片上系统（SOC）设计方法。SOC方式大大降低了

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本文介绍了一个将发送的归零码信号调制为PWM的LED点光源芯片，主要由信号的采集、编码、PWM调制、显示这几部分构成。文章利用ALTERA公司的QuartusII平台，通过Verilog硬件描述语言，并采用Cyclone系列的EP1C12Q240C8N器件完成了电路设计、代码编写等主要流程，且在Modelsim里完成了功能验证并给出了仿真波形。通过电路仿真和硬件测试验证了设计的正确性。