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完整英文版 ANSI/ESD SP5.4.1-2017 For Latch-up Sensitivity Testing of CMOS /BiCMOS Integrated Circuits - Transient Latch-up Testing - Device Level（ 用于CMOS BiCMOS集成电路的闩锁敏感度测试 - 瞬态闩锁测试 - 器件级）。本文档介绍了在明确定义的条件下执行瞬态闩锁 (TLU) 特性所需的步骤。它定义了被测设备 (DUT) 的预处理、施加应力脉冲、检测闩锁和确定故障标准。此外，还描述了验证测试设备的程序。测试方法使用户能够通过可靠且经过验证的测试设置执行特定于应用程序的 TLU 表征。

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