PS/2鼠标、触摸板和键盘与主机的通信协议详细介绍，可以通过查看此文档详细了解PS/2通信中主机和外设的通信细节。

全局键盘钩子，VS2013的项目，可直接编译运行查看键盘消息

Android应用程序键盘（Keyboard）消息处理机制分析

Hardware design files for the Mitosis keyboard

keyboard和Mouse测试，很多相关的工厂都需要，只是实现的方法各异，各有自己的道理。一般需要软件配合的有以下测试项： 1. High/Low Vol测试 (Keyboard,Mouse) 2. Function测试,可分手动或ATE测试 (Keyboard,Mouse) 3. PCBA测试(Matrix) (Keyboard) 4. DPI测试 (Mouse) 5. Report Rate测试 (Keyboard,Mouse) 6. Dongle测试 (无线Keyboard、Mouse) 7. RF Power测试 (无线Keyboard、Mouse) 8. Laser Power校正 (激光Mouse) 9. 力度感应测试 (Keyboard,Mouse) 10. 寿命测试 (Keyboard,Mouse) 11. 其它特殊的测试 一般中小工厂无法自行开发以上测试程序，也不会全部导入所有上述测试项。因此，发布几项比较通用的测试项免费且自由使用是有可能的，附件中的测试程序包括以下测试项： 1. mskbd 1.0.exe: 通用keyboard及Mouse手动测试程序，适用以下范围： 1.1 keyboard function测试、PCBA Matrix测试、QA的F/A 1.2 Mouse function测试(最多5个标准button、滚轮、轨迹)、Report Rate 1.3 支持最多2个HID设备的VID&PID;扫描。 详细说明请参考mskbd.doc 2. MsDPI 1.0.exe: Mouse DPI测试程序，详细说明请参考MsDPI.doc 自述： 以上测试程序使用上层的API实现数据的截取，因此可以做到通用，但特殊的Keyboard、Mouse功能则不能测试，必须使用低层驱动程序的方法实现，但这种方法很难做成通用测试程序，更多是一个专案对应一个测试程序。 Keyboard测试程序使用的算法并不是一种严谨的方法，我们知道顺序测试是目前能检测出最多不良现象的方法，但效率上饱受批评，故当前版本并不提供顺序测试的支持。 其它测试项需要治具、仪表支持，目前没有固定的方法测试，需要专门开发。如果有时间，后续有可能会公布Bluetooth的RF测试(需要8852A仪器)。

winit_keyboard_test

STM32CUBEMX生成的HAL库，修改后为USB HID 自定义通信设备+USB键盘。可以实现键盘功能及与PC USB通信传输数据，传输数据时单包为64字节

键盘高度提供器 在android中获取键盘高度，这是一个痛苦的过程。 对于软输入模式为adjustResize ，您可以设置OnGlobalLayoutListener并测量活动窗口的大小调整方式，以便为键盘腾出空间。 对于软输入模式的其他模式，您不走运。 由于即使经过28次SDK开发，android顽固的负责人也拒绝解决此问题，所以有人提出了一个很酷的解决方案： 创建一个弹出窗口并观察其全局布局更改 将其软输入行为设置为adjustResize 将此弹出窗口附加到您的活动，并根据其布局更改报告键盘高度。 设置 将以下仓库添加到您的项目中 repositories { maven { url " https://dl.bintray.com/crysis21/Android " } } 将以下依赖项添加到您的

海宏keyboard。 C#画的软键盘UserControl，就是把整个键盘的数字、字符区画出来了。 用系统自带的软键盘有些地方不好控制，所以自己做了个软键盘。

主板的键盘有一块专用的接口芯片，一般是采用一块单片微处理器8042（现在大多已集成在南桥或SIO里）。它控制整个键盘的工作，包括加电自检、键盘扫描码的缓冲以及与主板的通讯。INT 09H是H/W中断，对应IRQ1，INT 16H是一个S/W中断。当键盘的一个键被按下时，键盘接口芯片根据被按下的位置，INT 09H负责把键值转换成INT16H认识的值，返回给INT 16H。INT 16H再把该值根据OS所选定的不同语系键盘而转换成相应的二进制字符传给OS或应用程序。当用户敲击键盘速度过快，使主CPU来不及处理时，则先将所键入的内容送往住存储器的键盘缓冲区，等CPU能处理时，便从缓冲区中取出，送入CPU进行分析和执行。一般在PC机的内存中安排了大约20个字符的键盘缓冲区。