完整英文电子版 JEDEC JEP160：2011 Long-Term Storage for Electronic Solid-State Wafers, Dice, and Devices（电子固态晶圆、晶粒和器件的长期储存）。本标准审查了晶圆、管芯和封装固态器件的 LTS 要求。 用户应评估并选择最佳实践，以确保他们的产品将保持原样的设备完整性，并最大限度地减少与老化和存储相关的退化影响。

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包含的全部8份最新英文标准文件是： 1， IEC 62435-1：2017 电子元件-电子半导体器件的长期储存-第1部分：总则 2， IEC 62435-2：2017 电子元件--电子半导体器件的长期储存--第二部分：劣化机制 3， IEC 62435-3：2020 电子元件-电子半导体器件的长期存储-第3部分：数据 4， IEC 62435-4：2018 电子元件-电子半导体器件的长期储存-第4部分：储存 5， IEC 62435-5：2017 电子元件-电子半导体器件的长期存储-第5部分：芯片和晶圆器件 6， IEC 62435-6：2018 电子元件-电子半导体器件的长期储存-第6部分：包装或成品器件 7， IEC 62435-7：2020 电子元件-电子半导体器件的长期存储-第7部分：微机电器件 8， IEC 62435-8：2020 电子元件-电子半导体器件的长期储存-第8部分：无源电子器件

完整英文版 IEC 62435-1：2017 Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 1：General(电子元件-电子半导体器件的长期储存-第1部分：总则)。关于长期储存的IEC 62435-1:2017涵盖了长期储存的术语、定义和原则，可作为一种减少报废的策略使用。长期储存是指对于计划长期储存的产品，其持续时间可以超过12个月。此外，还涉及理念、良好的工作实践以及促进电子元件成功长期储存的一般手段。

完整英文版 IEC 62435-2：2017 Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductordevices - Part 2：Deterioration mechanisms（电子元件 - 电子半导体器件的长期储存 - 第 2 部分：劣化机制）。IEC 62435-2:2017 与劣化机制有关，并关注组件随时间推移的劣化方式，具体取决于应用的存储条件。 本部分还包括有关可用于评估一般劣化机制的测试方法的指南。 通常，该部分与 IEC 62435-1:2017 结合使用，用于任何设备的长期存储，对于计划长期存储的产品，其持续时间可能超过 12 个月。