完整英文版 IEC 62435-2：2017 Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductordevices - Part 2：Deterioration mechanisms（电子元件 - 电子半导体器件的长期储存 - 第 2 部分：劣化机制）。IEC 62435-2:2017 与劣化机制有关，并关注组件随时间推移的劣化方式，具体取决于应用的存储条件。 本部分还包括有关可用于评估一般劣化机制的测试方法的指南。 通常，该部分与 IEC 62435-1:2017 结合使用，用于任何设备的长期存储，对于计划长期存储的产品，其持续时间可能超过 12 个月。