完整英文版 IEC 60749-28：2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28：Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level （半导体器件-机械和气候测试方法：静电放电（ESD）敏感性测试-带电设备模型（CDM）-设备级 ）。IEC 60749-28:2017(E)规定了根据器件和微电路暴露于定义的场致带电设备模型(CDM)静电放电(ESD)时对其损害或退化的易感性(敏感性)进行测试、评估和分类的程序。所有封装的半导体器件、薄膜电路、表面声波（SAW）器件、光电子器件、混合集成电路（HIC）以及包含任何这些器件的多芯片模块（MCM）都将根据本文件进行评估。为了进行测试，这些器件被组装成与最终应用中预期的类似的封装。本CDM文件不适用于插座式放电模型测试器。
2021-07-13 09:04:08
2.13MB
【目录】
1. 设计阶段 2
设计描述 2
系统中涉及的数据 2
系统中涉及的处理 2
2. 规划 3
可行性分析报告 3
系统规划纲要 3
3. 需求分析 4
数据字典 4
数据结构 8
数据流 9
数据存储 15
处理过程 17
数据流图 20
4. 概念设计 22
选择局部应用 22
设计分E-R图 22
视图集成 24
5. 逻辑设计 24
E-R图向关系模型的转换 24
数据模型的优化 25
6. 数据库的物理设计 25
存取方法 25
存储结构 25
7. 程序设计 26
软件采用的数据库引擎 26
数据库中sql语句的在代码中的执行形式 27
8. 界面设计 31
学生的使用软件的界面设计及其内部简介 31
管理员的使用软件的界面设计及其内部简介 36
9. 测试 42
2021-07-10 09:05:53
1.74MB
【说明】
（1）基于C++和SQLServer、SQLite实现，含全部源代码；
（2）含SQLServer和SQLite两个可执行版本，可双击应用程序直接运行
【目录】
1. 设计阶段 2
设计描述 2
系统中涉及的数据 2
系统中涉及的处理 2
2. 规划 3
可行性分析报告 3
系统规划纲要 3
3. 需求分析 4
数据字典 4
数据结构 8
数据流 9
数据存储 15
处理过程 17
数据流图 20
4. 概念设计 22
选择局部应用 22
设计分E-R图 22
视图集成 24
5. 逻辑设计 24
E-R图向关系模型的转换 24
数据模型的优化 25
6. 数据库的物理设计 25
存取方法 25
存储结构 25
7. 程序设计 26
软件采用的数据库引擎 26
数据库中sql语句的在代码中的执行形式 27
8. 界面设计 31
学生的使用软件的界面设计及其内部简介 31
管理员的使用软件的界面设计及其内部简介 36
9. 测试 42
2021-07-10 09:05:53
24.19MB
光大地产A+H样本库动态跟踪报告（2019年第46周）：深圳调整“豪宅税”标准，雄安完成首次土地挂牌.pdf
2021-07-09 18:03:41
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ANSI-VITA 46.0 2007老版本的的英文版本的中文翻译版本，含目录，通过谷歌翻译进行文字翻译，翻译的不是很专业，对初学者理解VPX接口及协议有一定的帮助，后续会对翻译进行改进。
2021-07-09 15:33:23
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2021-07-08 22:00:29
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北京师范大学智慧学习研究院：2017互联网教育服务产业研究报告(摘要版)(46页).pdf
2021-07-07 19:03:57
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