集成电路的飞速发展使得测试的难度不断增加 ,而 A TPG技术在测试向量产生方面具有重要的意义 ,本文
对该技术的发展及其所采用的方法进行了系统地介绍和分析. 针对门级的组合电路和时序电路的 A TPG方法具有
许多相似之处 ,但也同时存在各自的特点 ,在文中 ,对这两类电路的方法进行了仔细的比较、区分。
2022-02-04 11:17:20
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DFT的matlab源代码DIST的BIST应用
随附的项目文件是指创建用于测试任何组合电路的内置自测。该代码用VHDL硬件描述性语言编写。
在我的示例中，被测电路（CUT）是一个4位乘法器以及一个六阶LFSR和MISR，以使系统可以在片上进行测试。
2021-12-21 20:14:12
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用原理图输入法设计一位全加器，计数器(74160)和译码器(7448)，顶层用原理图设计，用混合输入及层次化设计，VHDL语言的组合电路设计，0--9可逆计数器输出的是8421BCD码，交通灯，数字钟的VHDL语言设计
2021-05-25 11:09:44
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