摘要：SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂，在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例，在其设计、测试和可制造性等方面进行研究，并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑。关键词：单芯片系统；面向测试设计；面向制造设计；位失效图；自动测试设备 引言 以往的系统设计是将CPU，DSP，PLL，ADC，DAC或Memory等电路设计成IC后，再加以组合变成完整的系统，但现今的设计方式是将上述的电路直接设计在同一个IC上，或购买不同厂商的IP（intellectualproperty），直接加以整合，此方式称为单晶片片上系统（SOC）设计方法。SOC方式
2021-07-28 15:43:56
212KB
1
使用交叉编译生成的arm架构的adb 二进制可执行文件，可以移植到arm开发板上直接运行。
adb型号为1.0.26,该版本有usb和TCP/IP两种调试方法。
2021-07-22 02:03:17
1.28MB
1
STM32串口调试助手+HEX烧写工具，包括了两个调试助手（XCOM、丁丁）和两个烧写工具（FlyMcu、普中自动下载软件1.86），经个人测试在STM32的F1和F4系列开发中都比较好用。
2021-07-06 16:05:41
2.34MB
1