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卫星上使用的、延长EEPROM寿命及保证数据准确性的算法,可以用在单片机
2021-07-29 17:38:07 1.5MB 单片机 EEPROM寿命
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已经用matlab整理好的轴承数据集,格式为mat文件。一共8个文件,每个轴承的振动数据合并为一个矩阵,里面有具体说明文档。
2021-07-28 15:32:33 216.7MB 轴承数据集 IEEE2012 寿命预测 RUL
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粒子滤波在单目标跟踪多目标跟踪电池寿命预测中的应用-粒子滤波原理及应用仿真.doc 本帖最后由 huangxu_love 于 2013-7-26 12:50 编辑 推荐一本学习粒子滤波原理的好资料《粒子滤波原理及应用仿真》,本手册主要介绍粒子滤波的基本原理和其在非线性系统的应用。同时本手册最大的优点是介绍原理和应用的同时,给出实现例子的matlab代码程序,方便读者对照公式,理解代码。因此,它是相关方面的研究者快速上手和进入研究领域的快捷工具。同时,对于有一定基础的研究者,可以在本手册提供代码的基础上,做算法进一步改进和深入研究。 如果你有编程或者原理咨询,可以联系我的QQ345194112. 目  录第一部分 原理篇                                                                1第一章 概述                                                                  11.1 粒子滤波的发展历史                                                        11.2 粒子滤波的优缺点                                                         21.3 粒子滤波的应用领域                                                        3第二章 蒙特卡洛方法                                                          42.1 概念和定义                                                                42.2 蒙特卡洛模拟仿真程序                                                     52.2.1硬币投掷实验(1)                                                        52.2.2硬币投掷实验(2)                                                      52.2.3古典概率实验                                                              64.2.4几何概率模拟实验                                                         72.2.5复杂概率模拟实验                                                          72.3 蒙特卡洛理论基础                                                           102.3.1大数定律                                                                  102.3.2中心极限定律                                                              102.3.3蒙特卡洛的要点                                                           112.4 蒙特卡洛方法的应用                                                        132.4.1 Buffon实验及仿真程序                                                      132.4.2 蒙特卡洛方法计算定积分的仿真程序                                          14第三章 粒子滤波                                                              193.1 粒子滤波概述                                                              193.1.1 蒙特卡洛采样原理                                                         193.1.2 贝叶斯重要性采样
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完整英文版 IEC 60749-23:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23:High temperature operating life(半导体器件-机械和气候试验方法-第23部分:高温工作寿命)。IEC 60749-23:2004+A1:2011 用于确定偏置条件和温度随时间推移对固态器件的影响。 它以加速方式模拟设备运行条件,主要用于设备验证和可靠性监控。 一种使用短时间的高温偏置寿命形式,通常称为“老化”,可用于筛查与婴儿死亡率相关的故障。 老化的详细使用和应用不在本标准的范围内。 本合并版由第一版(2004 年)及其修订版 1(2011 年)组成。 因此,除本出版物外,无需订购修改。
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