ETest_RT是一款完全自主知识产权的半实物仿真测试平台（HIL）集成开发环境。该开发环境采用标准化的硬件模块和分层结构化的软件平台，实现了半实物仿真测试与验证环境搭建的功能，主要应用于装备嵌入式软件半实物仿真测试平台的快速开发与实施。 ETest_RT深度集成Simulink，提供Simulink模型的运行及验证环境。利用各种总线接口同外围其他设备连接搭建起半实物仿真环境，运行仿真模型验证功能，通过调参功能，能够自动提取模型内部的增益参数，在运行时调整参数值，可实时查看在不同参数条件下模型的运行情况。

自己测试用的，两个连杆，两个电机

IC卡读写器有人也称读卡器。IC 卡具有存储容量大、保密性好、体积小、便于携带等特点, 可广泛用于金融、交通、税务、社会保险、工商管理、医疗、电讯、旅游、餐饮、公共事业和保安等领域。 IC卡读写器读写器采用高品质的表面封装工艺。擦卡自检(判断卡的正反向和卡片类型),通讯时自动选择波特率(57600bps,和9600bps)。丰富的上层接口函数和界面，使它能方便的应用于各种基于IC卡的系统集成中。 读写器由单片机、键盘、显示、监控电路等部分组成。IC卡采用X76F100Y。X76F100为128×8位的保密串行FLASH E2PROM，其中读密码和写密码分别为64位。把芯片封装在一个卡片上，将卡片插入IC卡读写器的卡座中，读写器就可以对它进行读写，实现加密、查询、存款、取款等功能。IC卡座有8个引脚，当X76F100Y插入时，正好同这几个引脚相连。另外还有两个固定端，其中一个固定端同卡座上一个弹簧片相连，两个触点和簧片就相当于一个常闭开关。当卡未插入时，簧片闭合，P3.2脚保持低电平；当卡插入时，簧片被顶开，P3.2脚变为高电平。当单片机检测到P3.2脚变高，通过P1.3 使X76F100的RST引脚变高，使其复位。

ETest_RT是基于ETest Studio开发出的实时级嵌入式系统半实物仿真测试平台（Embedded System Real Time Test Studio RT,简称：ETest_RT）。ETest_RT由软件和硬件组成，软件采用ETest Studio，硬件包括实时下位机和通用上位机两部分。 实时下位机采用PXI架构的测控计算机，具有实时性高、仿真能力强、板卡间同步效果好的特点，适合于航空航天、武器装备、汽车电子、仪器仪表等领域的测试与验证需求。

ETest_RT包括测试软件和硬件两部分。测试软件选用ETest，包含实时内核模块和实时动作脚本；硬件由上位机和实时下位机组成，上位机采用商用便携计算机，下位机采用PXI测控计算机。上位机安装Windows操作系统，运行设备资源管理、测试设计、测试调度、运行服务器、数据中心、运行客户端、实时动作下载调试器；下位机安装实时操作系统，运行装载器模块、实时进程模块、上传器模块；下位机通过各类PXI接口板卡与被测系统相连。

嵌入式系统测试平台集成开发环境（Integrated development environment for embedded system test platform，简称：ETest Studio）是一款用于嵌入式系统测试工装（测试设备）研发与部署的集成开发工具。ETest Studio具有应用范围广、开发效率高、使用简单、可扩展性强、国产自主可控等特点，可广泛应用于航空航天、武器装备、工业控制、汽车电子、仪器仪表等各行业。

ETest_HLink是一款小型化、综合化、一体化的通用半实物仿真测试产品，它实现了航空航天、兵器和船舶等领域常用的外部总线接口和信号接口，集成14寸显示器和键盘等操作外设。适用于内场、外场测试，多台设备通过网络协同的方式完成大型的分布式半实物仿真测试试验。

针对武器装备的半实物仿真测试系统对实时通信的需求，提出了一种反射内存卡及其FPGA代码的设计方法，并给出了板卡的组成、工作原理、软件设计方案和具体实现途径。在此基础上，搭建了基于该卡的反射内存实时网络，并对板卡进行全面性能评估测试。测试结果表明，该反射内存卡使用在反射内存实时网络中，能够很好的满足半实物仿真测试系统对网络通信的强实时性、低迟延、高速率等各方面不断增长的要求。

可以模拟多种协议，尤其是DNP3模拟的比较好，支持自定义，支持修改端口，支持设置不同的对象，变体，地址，支持，可视化很高

ETest_RT是基于ETest Studio开发出的实时级嵌入式系统半实物仿真测试平台（Embedded System Real Time Test Studio RT,简称：ETest_RT）。ETest_RT由软件和硬件组成，软件采用ETest Studio，硬件包括实时下位机和通用上位机两部分。 实时下位机采用PXI架构的测控计算机，具有实时性高、仿真能力强、板卡间同步效果好的特点，适合于航空航天、武器装备、汽车电子、仪器仪表等领域的测试与验证需求。