吉时利仪器公司日前推出专为低电压测试而优化的低成本方案—2400系列数字源表。新推出的2401型数字源表与所有吉时利SMU(源测量单元)仪器一样,对光伏(太阳能)电池、高亮度LED(HBLED)、低压材料和半导体器件的电流与电压(I-V)特性分析以及电阻测量等高精度测试应用进行了优化。
2024-03-27 06:30:15 55KB 测试测量仪器
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本文主要讲了运算放大器输入失调电压测试方法,一起来学习
2023-03-04 22:53:13 21KB 运算放大器 电压 测试方法 文章
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输出杂讯(PARD)仪指于输入电压与输出负载电流均不变化的情况下,其平 均直流输出电压上的周期性随机性偏差量的电压值。输出是表示在经过稳压及滤 波后的直流输出电压上所有不需要的交流及纹波部份(包含低频之 50/60HZ 电源 信号、高于 20KHz 之高频切换信号及其谐波,再与其它之随机性信号所组成), 通 常以 mVp-p 峰-峰值勤电压为单位来表示。 2、一般的开关式电源供应器的规格均以输出直流输出电压的 1%以内为输出杂讯 之规格,其频宽为 20HZ 到 20MHZ(或其他更高之频宽,如 30MHZ、 50MHZ 等)。 电源供应器实际工作时最恶劣的状况(如输出负载电流最大、输入电源电变压器 最低等), 若电源供应器在电恶劣的状况下,其输出直流电压加上杂讯后之输出瞬 时电压,仍能够维持稳定的输出电压不超过输出高低电压界限情形,否则将可能 会导致电源电压超过或低于逻辑电路(如 TTL 电路)之承受电源电压而误动作, 这一步造成当机现象。 3、例如 5V 输出,其输出杂讯要求为 50mV 以内(此时包含电源调整率、负载调 整率、动态负载等其他所有变动,其输出瞬时电压应介于 4.75V 至 5.25V 之间,才 不致引起 TTL 逻辑电路之误动作),而 12V 输出其输出杂讯要求为 120mV 以内,24V 输出其输出杂讯要求为 240mV 以内。 4、在测量输出杂讯时,电子负载的 PARD 必须比待测之电源供应器的 PARD 值为 低,才会影响输出杂讯之测量。同时测量电路必须有良好的隔离处理及阻抗匹配, 为避免导线上产生不必要的干扰、振铃和驻波,一般都采用变同轴电缆并以 50Ω 于其端点上,并使用差动式量测方法(可避免地回路这杂讯电流), 来获得正确的 测量结果。 辅 助 图 :输出杂讯(PARD)仪指于输入电压与输出负载电流均不变化的情况下,其平 均直流输出电压上的周期性随机性偏差量的电压值。输出是表示在经过稳压及滤 波后的直流输出电压上所有不需要的交流及纹波部份(包含低频之 50/60HZ 电源 信号、高于 20KHz 之高频切换信号及其谐波,再与其它之随机性信号所组成), 通 常以 mVp-p 峰-峰值勤电压为单位来表示。 2、一般的开关式电源供应器的规格均以输出直流输出电压的 1%以内为输出杂讯 之规格,其频宽为 20HZ 到 20MHZ(或其他更高之频宽,如 30MHZ、 50MHZ 等)。 电源供应器实际工作时最恶劣的状况(如输出负载电流最大、输入电源电变压器 最低等), 若电源供应器在电恶劣的状况下,其输出直流电压加上杂讯后之输出瞬 时电压,仍能够维持稳定的输出电压不超过输出高低电压界限情形,否则将可能 会导致电源电压超过或低于逻辑电路(如 TTL 电路)之承受电源电压而误动作, 这一步造成当机现象。 3、例如 5V 输出,其输出杂讯要求为 50mV 以内(此时包含电源调整率、负载调 整率、动态负载等其他所有变动,其输出瞬时电压应介于 4.75V 至 5.25V 之间,才 不致引起 TTL 逻辑电路之误动作),而 12V 输出其输出杂讯要求为 120mV 以内,24V 输出其输出杂讯要求为 240mV 以内。 4、在测量输出杂讯时,电子负载的 PARD 必须比待测之电源供应器的 PARD 值为 低,才会影响输出杂讯之测量。同时测量电路必须有良好的隔离处理及阻抗匹配, 为避免导线上产生不必要的干扰、振铃和驻波,一般都采用变同轴电缆并以 50Ω 于其端点上,并使用差动式量测方法(可避免地回路这杂讯电流), 来获得正确的 测量结果。 辅 助 图 : 注意事项:样品在试验前至少在 25℃存 注意事项:样品在试验前至少在 25℃存
2022-12-04 21:46:49 114KB 纹波电压
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板子信息: 2层PCB 25 x 121.9毫米FR-4、1.6毫米,1,带铅的HASL,绿色阻焊剂,白色丝印 非接触电压测试仪,我将LEd的限流电阻的值从1K降低到330R。仍然使用3个2n2222 npn晶体管作为放大器。而且我们正在使用有源蜂鸣器,标准蜂鸣器将无法工作。
2022-03-31 22:37:12 54KB 电压测试 电路方案
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MOSFET Vds 电压测试注意事项docx,开关管作为开关电源产品中最贵的元器件之一,也是最容易损坏的元器件。一般开关管的损坏有两种原因:一个是温度,一个是Vds电压超标。
2021-10-18 09:39:04 75KB 测试测量
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教你如何测量内存,非常好的资料。非常好的资料,请多多支持。
2021-10-14 17:37:35 142KB 内存 电压 测量
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行业资料-电子功用-用于在击穿电压测试仪中模拟缺陷的方法和击穿电压测试仪.zip
该数字万用表主要由51单片机主控板、电阻测量模块、电压测量模块、电流测量模块组成。 数字万用表测量参数如下: 电阻测量: 10: send0(0x80); 100: send0(0x81); 1K: send0(0x82); 10K: send0(0x83); 100K: send0(0x84); 1M: send0(0x85); 10M: send0(0x86); 直流电压测量: 100MV: send1(0x04); 10V: send1(0x08); 100V: send1(0x10); 10KV: send1(0x20); 交流电压测量: 100MV: send1(0x06); 10V: send1(0x0a); 100V: send1(0x12); 10KV: send1(0x22); 直流电流测量: 1MA: send2(0x02); 10MA: send2(0x04); 100MA: send2(0x08); 10A: send2(0x10); 交流电流测量: 1MA: send2(0x03); 10MA: send2(0x05); 100MA: send2(0x09); 10A: send2(0x11); 数字万用表电路设计截图: 数字万用表程序源码截图:
2021-07-25 20:43:10 2.92MB 电阻测量 电流测量 电压测试 电路方案
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使用8086系统测试电压并使用0808模拟化显示。
2021-06-29 22:49:10 887B 汇编语言 0808
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