采用了IEEE1149中TAP控制器的概念与IEEE1500 wrapper的概念相结合，设计出一款基于IEEE1500测试标准同时兼容IEEE1149测试标准的测试控制器，并设计了满足不同时钟域同时并行配置通用寄存器的功能,可以节省多个时钟域串行配置寄存器的时间,提高了测试效率。结果中的verdi仿真图表明文章所设计的测试结构达到了预期。