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CMOS电路结构中的闩锁效应
CMOS电路结构中的闩锁效应
上传者:
zjl840928
|
上传时间: 2022-03-25 19:35:10
|
文件大小: 436KB
|
文件类型: -
闩锁效应
CMOS Scaling理论下器件特征尺寸越来越小,这使得CMOS电路结构中的闩锁效应日 益突出。闩锁是CMOS电路结构所固有的寄生效应,这种寄生的双极晶体管一旦被外界条件触发, 会在电源与地之间形成大电流通路,导致器件失效。
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