CMOS电路结构中的闩锁效应

上传者: zjl840928 | 上传时间: 2022-03-25 19:35:10 | 文件大小: 436KB | 文件类型: -
CMOS Scaling理论下器件特征尺寸越来越小,这使得CMOS电路结构中的闩锁效应日 益突出。闩锁是CMOS电路结构所固有的寄生效应,这种寄生的双极晶体管一旦被外界条件触发, 会在电源与地之间形成大电流通路,导致器件失效。

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