基于51单片机的晶体管特性测试系统的设计
介绍一种基于 AT89S52 单片机的晶体管特性测试系统的设计原理。 详细说明该系统的基本原理、硬件框架、主要电路以及软件框架。 整个系统采用模块化设计, 较精确的对晶体管交直流放大特性参数、输入/ 输出特性曲线和频率特性进行测量。 本系统具有性能可靠、抗干扰能力强、功耗低、性价比高等优点
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