嵌套循环-白盒测试用例设计

上传者: 42191359 | 上传时间: 2021-12-16 17:17:07 | 文件大小: 494KB | 文件类型: -
嵌套循环: 如果将简单循环的测试方法用于嵌套循环,可能的测试数就会随嵌套层数成几何级增加,这会导致不实际的测试数目,下面是一种减少测试数的方法: 从最内层循环开始,将其它循环设置为最小值; 对最内层循环使用简单循环,而使外层循环的跌代参数(即循环计数)最小,并为范围外或排除的值增加其它测试; 由内向外构造下以个循环的测试,但其它的外层循环为最小值,并使其它的嵌套循环为“典型”值; 继续直到测试所有的循环。

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