AOI-光学检测行业报告
AOI—PCB的缺陷检测包括：底片的检查，覆盖有光敏抗蚀剂的板在进行显影线的潜像质量的检查，在铜的表面检查显影后的图像质量，检查导体电路图形的质量，钻孔后的质量检查，检查微孔质量，非传统微孔加工表面质量检查和集成电路的封装和装配的质量检查。 FPD—AOI的主要应用于以下检测：Mura缺陷检测，ColorFilter缺陷检测，色度、厚膜、光学密度检测，PI检测，LC液晶检测。检测工序遍布LCD、OLED以及TouchPanel产品等平板显示器件的生产环节，主要利用光学信号对其结构和外观做出检测并辅助其他功能性检测。主要目的有三：（1）避免不良品流入下道工序；（2）改善制程工艺和流程；（3）对
文件下载
评论信息
其他资源
- kernel-devel-3.10.0-1127.el7.x86_64.rpm
- c# 读取netcdf
- 多用户检测算法
- Java sun audio包
- 单片机上实现的modbus_tcp通信
- 学生成绩管理系统+sql
- VB发送HTTP请求
- fDSST跟踪算法 C++版本
- robocup 2d 科大2队的可执行代码
- Java版连连看游戏完整源码+素材
- 数字化的武汉城区图
- 华为交换机S5700升级包
- 187集C语言最新标准化学习课程 C语言理论+实验+项目 最新版本C语言开发实战教学
- 带进度条的音乐播放器
- FileZilla_3.47.1_win64_sponsored-setup.exe
- System Identification toolbox user guide系统辨识工具箱说明书
- slf4j-api-1.7.12.jar slf4j-log4j12-1.7.12.jar
- orl+yale+中科院人脸库
- UML 2.0学习指南 pdf
- Authorware案例集（11篇绝对自创）
免责申明
【只为小站】的资源来自网友分享，仅供学习研究，请务必在下载后24小时内给予删除，不得用于其他任何用途，否则后果自负。基于互联网的特殊性，【只为小站】 无法对用户传输的作品、信息、内容的权属或合法性、合规性、真实性、科学性、完整权、有效性等进行实质审查；无论 【只为小站】 经营者是否已进行审查，用户均应自行承担因其传输的作品、信息、内容而可能或已经产生的侵权或权属纠纷等法律责任。
本站所有资源不代表本站的观点或立场，基于网友分享，根据中国法律《信息网络传播权保护条例》第二十二条之规定，若资源存在侵权或相关问题请联系本站客服人员，zhiweidada#qq.com，请把#换成@，本站将给予最大的支持与配合，做到及时反馈和处理。关于更多版权及免责申明参见 版权及免责申明
本站所有资源不代表本站的观点或立场，基于网友分享，根据中国法律《信息网络传播权保护条例》第二十二条之规定，若资源存在侵权或相关问题请联系本站客服人员，zhiweidada#qq.com，请把#换成@，本站将给予最大的支持与配合，做到及时反馈和处理。关于更多版权及免责申明参见 版权及免责申明