简述半导体功能测试

上传者: 38714509 | 上传时间: 2024-07-02 09:28:41 | 文件大小: 106KB | 文件类型: PDF
述半导体测试的术语
1. DUT
  需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT(Device Under Test,我们常简称“被测器件”),或者叫UUT(Unit Under Test)。
  首先我们来看看关于器件引脚的常识,数字电路期间的引脚分为“信号”、“电源”和“地”三部分。
  信号脚,包括输入、输出、三态和双向四类,
  输入:在外部信号和器件内部逻辑之间起缓冲作用的信号输入通道;输入管脚感应其上的电压并将它转化为内部逻辑识别的“0”和“1”电平。
  输出:在芯片内部逻辑和外部环境之间起缓冲作用的信号输出通道;输出管脚提供正确的逻辑“0”或“1”的电压,并提供合适的

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