IC测试基本原理与ATE测试向量生成
集成电路测试（IC测试）主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究和发展IC测试，有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。
1 IC 测试
1.1 IC测试原理
IC 测试是指依据被测器件（DUT）特点和功能，给DUT提供测试激励（X），通过测量DUT输出响应（Y）与期望输出做比较，从而判断DUT是否符合格。图1所示为IC测试的基本原理模型。
根据器件类型，IC测试可以分为数字电路测试
1 IC 测试
1.1 IC测试原理
IC 测试是指依据被测器件（DUT）特点和功能，给DUT提供测试激励（X），通过测量DUT输出响应（Y）与期望输出做比较，从而判断DUT是否符合格。图1所示为IC测试的基本原理模型。
根据器件类型，IC测试可以分为数字电路测试
文件下载
评论信息
其他资源
- UMP Pro Win Mac Linux WebGL 2.0.3.unitypackage
- FoxitPhantomPDF.v7.3.5.315.Business 福昕高级PDF编辑器永久授权绿色精简版
- 混合高斯背景建模-运动物体检测下载
- 基于MATLAB的FIR数字低通滤波器分析和设计
- 电压电流检测模块
- 3维离散小波变换代码
- Android实现抽奖转盘源码
- 不同调制方式下误码率性能对比
- 计算机组成原理实验2-计算机组成原理实验-存储器系统设计实验
- 多类仪表识别.zip
- Unity3dMYO肌电臂环二次开发例程(保证好使)
- 计算机几何算法与实现(Visual C++版) 源码
- MAC OS X 10.4.3多国语言X86版
- 特征提取的意义
- netstat -an 实现的源码
- Web Socket聊天例子.java eclipse
- 小程序页面生成工具
- Poedit Pro 2.2 最新多国语言便携注册版 汉化工具专用软件
- NRF24l01_51单片机+232串口传输
免责申明
【只为小站】的资源来自网友分享，仅供学习研究，请务必在下载后24小时内给予删除，不得用于其他任何用途，否则后果自负。基于互联网的特殊性，【只为小站】 无法对用户传输的作品、信息、内容的权属或合法性、合规性、真实性、科学性、完整权、有效性等进行实质审查；无论 【只为小站】 经营者是否已进行审查，用户均应自行承担因其传输的作品、信息、内容而可能或已经产生的侵权或权属纠纷等法律责任。
本站所有资源不代表本站的观点或立场，基于网友分享，根据中国法律《信息网络传播权保护条例》第二十二条之规定，若资源存在侵权或相关问题请联系本站客服人员，zhiweidada#qq.com，请把#换成@，本站将给予最大的支持与配合，做到及时反馈和处理。关于更多版权及免责申明参见 版权及免责申明
本站所有资源不代表本站的观点或立场，基于网友分享，根据中国法律《信息网络传播权保护条例》第二十二条之规定，若资源存在侵权或相关问题请联系本站客服人员，zhiweidada#qq.com，请把#换成@，本站将给予最大的支持与配合，做到及时反馈和处理。关于更多版权及免责申明参见 版权及免责申明