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集成电路面试必备之可测性设计的Rombist
集成电路面试必备之可测性设计的Rombist
上传者:
38680492
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上传时间: 2021-07-28 21:20:03
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文件大小: 912KB
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文件类型: PDF
集成电路可测试性
随着半导体工艺的发展,可测性技术成为每个芯片在设计中必须考虑的问题,如何高效和高质量的测试芯片中的内嵌Memory,成为DFT技术中的关键技术,本文针对rombist中的memory model的产生算法和结果做一个分析和总结,实际案例的具体分析和技术,希望对大家的面试和工作有帮助。
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