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开关频率及线圈层数、高度对变压器铜损的影响 (2009年)
开关频率及线圈层数、高度对变压器铜损的影响 (2009年)
上传者:
38647567
|
上传时间: 2021-05-11 18:03:39
|
文件大小: 449KB
|
文件类型: PDF
工程技术
论文
研究了开关频率对铜损的影响,及其与变压器的分布参数及负载特性有直接的关系:在负载特性与分布参数一起呈感性特性时,铜损随开关频率的提高而减小;一起呈容性特性时,铜损随开关频率的提高而增大;当一起呈谐振特性时,铜损最大。针对减小铜损的高频变压器最优参数,分析了线圈层数和线圈高度2个参数的最优化。
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