均匀光纤布拉格光栅的反射偏振相关损耗特性

光栅偏振相关耦合模理琼斯矩阵

研究了单模光纤布拉格光栅的偏振相关损耗(PDL)特性。运用耦合模理论和琼斯(Jones)矩阵提出了反射光的有效偏振相关损耗(PDLeff)，并模拟了其随光栅参数和双折射量的变化性质。光栅反射光的偏振相关损耗在反射谱的带边处明显地表现出来，特别是带边比较陡峭时。结果表明，光栅的有效偏振相关损耗明显地依赖于光栅的结构参数和双折射量。光栅的有效偏振相关损耗随光栅长度和调制深度的增加急剧增大。对于给定光栅长度和调制深度的光栅，光栅双折射量小于2×10-5时，光栅的有效偏振相关损耗随双折射的增大迅速增大；光栅双折射量大于2.5×10-4时，光栅的有效偏振相关损耗的两个主峰的宽度变大并在其上有子峰，随双折射的继续增大，两主峰间距增大而子峰变小。实验结果与理论模拟基本吻合。

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