瓷绝缘子脉冲红外热波检测研究

上传者: 38628920 | 上传时间: 2022-03-10 15:15:43 | 文件大小: 1.87MB | 文件类型: -
采用主动式脉冲红外热波技术检测瓷绝缘子内部缺陷,两个高能脉冲闪光灯用于瞬时加热被测瓷绝缘子表面,绝缘子表面吸热而升温,热量由表面向内部传导,从而引起表面温度的降低,计算机控制红外热像仪采集和记录绝缘子表面降温过程。通过研究热波一维热传导理论模型,建立了针对内部气孔缺陷的一阶相对热对比度理论公式并模拟其理论曲线,结合对实验热波降温数据序列进行处理和分析,实现了瓷绝缘子夹杂和内部气孔的检测。并分析和讨论了瓷绝缘子内部气孔和夹杂缺陷的一阶微分热图在时序上的区别。结果表明脉冲红外热波技术能用于瓷绝缘子内部缺陷检测。

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